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產(chǎn)品名稱：韓國XRF-2000金屬鍍層測厚儀
產(chǎn)品型號：
產(chǎn)品報價：
產(chǎn)品特點：韓國XRF-2000金屬鍍層測厚儀檢測電子電鍍,PCB板電鍍,化學(xué)鍍,,如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍銀,鍍鈀...可測單層,雙層,多層,合金鍍層,測量范圍:0.04-35um儀
韓國XRF-2000金屬鍍層測厚儀的詳細(xì)資料：
韓國XRF-2000金屬鍍層測厚儀
原產(chǎn)地 : 韓國
儀器功能 : 測量電鍍層厚度
檢測電子電鍍,化學(xué)鍍層厚度,如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀...
可測單層,雙層,多層,合金鍍層,
測量范圍:0.04-35um
測量精度:±5%,測量時間只需30秒便可準(zhǔn)確知道鍍層厚度
全自動臺面,自動雷射對焦，操作非常方便簡單
系統(tǒng)結(jié)構(gòu) :
主機箱,專用分析電腦,彩色液晶顯示屏,彩色打印機
主機尺寸
610 x 670 x 600 mm(訂制加高型主機箱高度超過600mm)
主機箱重量 : 約75 公斤
配件重量 : 約 35 公斤
樣品臺承重:5KG
以滑鼠移動方式,驅(qū)動 XYZ 三軸移動,步進馬達
XYZ 樣片臺移動尺寸
200 x 150 x 100 mm
準(zhǔn)直器一個可選0.1, 0.2, 0.3, 0.4, 0.05*0.4mm
軟件包括 視察軟件,
系統(tǒng)軟件包括,測量,統(tǒng)計
系統(tǒng)功能
可測單層,雙層或多層或合金層電鍍厚度
標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格
自動雷射對焦,XYZ全自動XYZ樣片臺,自動調(diào)整檔案功能,電鍍藥液測量.元素配對.
主機箱:
輸入電壓力:AC220V± 10% 50/60HZ
溝通方法:RS-232C
溫度控制:前置放大及機箱溫度控制
對焦:雷射對焦
安全裝置:如測量中機箱門打開,X射線0.5秒內(nèi)自動關(guān)閉
表面泄漏:少于1usv
多通道分析
通道數(shù)量:1024ch
脈沖處理:微電腦高速處理器
X射線源
X射線管:油冷
高壓:0-50KV(程控)
管電流0-1mA(程控)
目標(biāo)杷:W靶
校正及應(yīng)用:單鍍層,雙鍍層,合金鍍層,標(biāo)準(zhǔn)樣品再校正
2D,3D隨機位置測量
2D:均距表面測量
3D:表面排列處理測量
隨機位置:任意設(shè)定測量點
檢測器:正比計數(shù)器
檢測器濾片:CO或Ni(選項)
X-Y-Z三軸樣品臺
操作模式:高速精密馬達,可控制加減速度
2D,3D隨機定位,鼠標(biāo)定定,樣品臺視窗控制,程控定位
機箱門打開關(guān)閉Y軸自動感應(yīng)
統(tǒng)計功能:打印報告可顯示zui大/zui小值,位移,平均值,標(biāo)準(zhǔn)差,測量位置圖片顯示及Bar圖表等
多種測量報表模式可選(可插入公司標(biāo)志及客戶名稱)
定性分析:
原素頻譜顯示,ROI距離定性分析,標(biāo)簽圖案顯示
指標(biāo)顯示:顯示原素及測量數(shù)值,顯示ROI彩色圖
放大功能:局部放大,平均功能:柔和顯法頻譜
視窗大小:無級別式視窗大小.
檢測電子及五金電鍍,化學(xué)電鍍層厚度
主要檢測:鍍金,鍍銀,鍍鎳,鍍銅,鍍鋅,鍍錫,及各種合金鍍層等
韓國先鋒X射線鍍層測厚儀
全自動臺面
自動雷射對焦
多點自動測量 (方便操作人員準(zhǔn)確快捷檢測樣品）
測量樣品高度不超過3cm(亦有10CM可選)
特別訂制可測20cm以內(nèi)高度產(chǎn)品
鍍層厚度測試范圍：0.03－35um
可測試單鍍層，雙鍍層，多鍍層及合金鍍層厚度
韓國XRF-2000金屬鍍層測厚儀
檢測電子電鍍,五金電鍍,端子連接器等產(chǎn)品電鍍層厚度
可測量鍍金,鍍銀.鍍鋅.鍍鎳,鍍錫.鍍鉻,鍍鋅鎳等
XRF-2020測厚儀測試范圍
鍍金：0.03-6um
鍍鈀：0.03-6um
鍍鎳：0.5-30um
鍍錫：0.3-50um
鍍銀：0.1-50um
鍍鉻：0.5-30um
鍍鋅：0.5-30um
鍍鋅鎳合金：0.5-30um
應(yīng)用：檢測電子電鍍,五金電鍍,LED支架,端子連接器,半導(dǎo)體等電鍍層厚度
可測試單鍍層，雙鍍層，多鍍層及合金鍍層厚度
可廣泛使用于電鍍生產(chǎn)企業(yè)及成品來料檢測,方便更有效控制產(chǎn)品電鍍層厚度及品質(zhì)。
XRF-2000電鍍測厚儀可用于測量工件、PCB及五金、連接器、半導(dǎo)體等產(chǎn)品的各種金屬鍍層的厚度。只需要10-30秒即可獲得測量結(jié)果, 小測量面積為直徑為0.2mm的圓面積; 測量范圍：0-35um;
可測量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度
可通過CCD攝像機來觀察及選擇任意的微小面積以進行微小面積鍍層厚度的測量
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